澳譜特科技參加中國顆粒學(xué)會第十一屆學(xué)術(shù)年會

       2020年10月24日，中國顆粒學(xué)會第十一屆學(xué)術(shù)年會暨海峽兩岸顆粒技術(shù)研討會在廈門市盛大開幕。本屆會議由中國顆粒學(xué)會、大同大學(xué)（臺北）、臺北科技大學(xué)共同主辦，中國顆粒學(xué)會生物顆粒專業(yè)委員會、集美大學(xué)、省部共建煤炭高效利用與綠色化工國家重點實驗室、青島科技大學(xué)、中國計量大學(xué)協(xié)辦。本次會議圍繞顆粒的測試與表征，顆粒制備、處理與應(yīng)用，疫情后的氣溶膠科學(xué)發(fā)展與未來趨勢等主題，設(shè)置了16個學(xué)術(shù)分會場，雖然目前疫情還沒有解除，但參會人數(shù)超過1500人。

大會現(xiàn)場

        顆粒學(xué)相關(guān)專家學(xué)者、企業(yè)代表帶來一場高水平學(xué)術(shù)盛宴，彰顯著中國顆粒學(xué)的蓬勃發(fā)展。除了學(xué)術(shù)交流，本次年會還同期舉辦顆粒/粉體技術(shù)、設(shè)備和儀器展，展覽內(nèi)容包括：測試分析儀器，顆粒/粉體制備技術(shù)及設(shè)備、顆粒/粉體材料及產(chǎn)品、顆粒/粉體應(yīng)用等。

       澳譜特科技攜帶新推出的納米粒度及Zeta電位分析儀和動態(tài)圖像粒度粒形分析儀參加了此次年會。納米粒度及Zeta電位分析儀使用動態(tài)光散射技術(shù)測量納米顆粒粒度，使用電泳光散射技術(shù)測量電泳遷移率和Zeta電位，是測量納米顆粒粒度和Zeta電位的不錯選擇。動態(tài)圖像粒度粒形分析儀可以迅速采集數(shù)萬個顆粒的圖像，利用先進的數(shù)字圖像處理算法提取顆粒的特征參數(shù)，快速獲得顆粒的粒度及粒形信息，以便深入了解產(chǎn)品或工藝狀態(tài)。展會期間，澳譜特科技的兩款儀器受到了業(yè)內(nèi)人士的*。
       本屆顆粒學(xué)大會討論的內(nèi)容廣泛且具有深遠的現(xiàn)實意義，激勵我們持續(xù)不斷改進產(chǎn)品性能，滿足廣大用戶的需求。

展會現(xiàn)場