納米顆粒粒徑檢測(cè)：顆粒的大小稱為粒度，通常球體顆粒的粒度用直徑表示，立方體顆粒的粒度用邊長(zhǎng)表示。粒徑是顆粒的直徑。然而實(shí)際中的顆粒大多是不規(guī)則的，所以，為了更方便的描述顆粒的大小，在實(shí)際測(cè)算中，將不規(guī)則的顆粒等效為規(guī)則球，并以其直徑作為顆粒的粒度。這就是“等效圓球理論”。
納米顆粒粒徑檢測(cè)的方法主要有篩分法、光阻法、動(dòng)態(tài)光散射、超聲波法、沉降法、電阻法、激光散射/衍射法、電子顯微鏡和顯微(圖像)法。那么這幾種方法各自具備哪些優(yōu)點(diǎn)呢？
納米顆粒粒徑檢測(cè)方法的優(yōu)點(diǎn)介紹：
篩分法設(shè)備簡(jiǎn)單，操作簡(jiǎn)便，易于實(shí)行，設(shè)備造價(jià)低。
光阻法的測(cè)量精度較高繁瑣。
動(dòng)態(tài)光散射法具有準(zhǔn)確、快速、可重復(fù)性好等優(yōu)點(diǎn)。
超聲波法可對(duì)高濃度漿料直接測(cè)量。
沉降法原理直觀，分辨率較高，價(jià)格及運(yùn)行成本低。操作簡(jiǎn)便，儀器可以連續(xù)運(yùn)行，價(jià)格低，準(zhǔn)確性和重復(fù)性較好，測(cè)試范圍較廣。
電阻法測(cè)量精度高，操作簡(jiǎn)便，測(cè)量速度快，重復(fù)性較好，通常范圍在0.5～100μm。
激光散射/衍射法操作簡(jiǎn)便，測(cè)試速度快，測(cè)試范圍廣，重復(fù)性和準(zhǔn)確性好，可進(jìn)行在線測(cè)量和干法測(cè)量。測(cè)試速度快，自動(dòng)化程度高，操作簡(jiǎn)便，重復(fù)性和真實(shí)性好，可以測(cè)試干粉樣品，可以測(cè)量混合粉、乳濁液和霧滴等。
電子顯微鏡法適合測(cè)試超新顆粒甚至納米顆粒，分辨力高，可進(jìn)行形貌和結(jié)構(gòu)分析。
顯微(圖像)法可以直接觀察顆粒的形貌，可以準(zhǔn)確地得到球型度、長(zhǎng)徑比等特殊數(shù)據(jù)，適合分布窄的樣品。
